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AEMIC AE-1152D 微欧级超低电阻精密测试解决方案

AEMIC AE-1152D 微欧级超低电阻精密测试解决方案
秋山工业  2026/09/01  |  阅读:15

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产品配置单:
方案详情:

行业痛点:微欧、毫欧级超低电阻工件,普通万用表、普通电阻测试仪分辨率低、引线误差大、热漂移严重,无法精准检测;接触电阻不稳定、绕组电阻偏差、精密电阻阻值漂移,会导致产品发热、导通异常、使用寿命缩短,常规设备无法满足出厂检测与可靠性试验标准。

解决方案:采用AEMIC AE-1152D低电阻测试仪,采用专业四端子测量法,彻底消除引线电阻误差,最小分辨率可达0.1μΩ,覆盖全量程超低电阻检测。搭配脉冲式测试电流,有效抑制热电动势干扰,避免探头自热造成数据漂移,长期测试稳定性强。设备自带接触自检、良品判定、数据存储、多档测速功能,适配各类精密低电阻工件批量检测。

落地价值:解决超低电阻测试精度不足、数据不稳、重复性差的行业难题,统一元器件出厂检测标准,精准筛选不良品,保障电气产品导通稳定性与使用安全性,适配量产质检、来料检验、研发测试、可靠性试验全场景。


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