行业痛点：发光粉体、掺杂光学粉体、荧光粉体等新型功能粉体材料，研发与量产阶段需要频繁检测光学透过率、光损耗等核心参数。传统单通道光功率计单次仅能检测单一样品，批量粉体试样检测效率极低，且弱光信号检测精度不足，无法精准区分不同粉体配比、烧结工艺带来的光学性能差异，制约功能粉体材料工艺迭代。

解决方案：采用Santec MPM-210H多通道光功率计，搭建功能粉体光学性能高效检测方案。设备支持多通道同步数据采集，宽动态测量范围，针对粉体弱光信号检测稳定性极强，响应速度快，可批量完成光学粉体试样数据采集。设备可对接电脑终端实现数据存储、导出与对比分析，适配粉体实验室新品研发、产线批量抽检、成品性能分级全流程检测需求。

方案优势：多通道同步检测大幅缩减粉体试样测试时长，提升粉体研发与质检效率；测量数据重复性、精准度高，可精准量化粉体光学性能差异；设备稳定性强，适配长期常态化粉体检测工作，助力光学粉体配方优化与品质管控。