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NITTOSEIKO ANALYTECH MCP-HT800 日本 高阻材料表面与体积电阻率评价方案

NITTOSEIKO ANALYTECH MCP-HT800 日本 高阻材料表面与体积电阻率评价方案
秋山工业  2026/10/26  |  阅读:30

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产品配置单:
方案详情:

行业痛点:防静电材料、塑料薄膜、涂料、纤维与陶瓷等制品的导电性能需要在研发与出厂环节量化评价,普通低电阻仪器量程无法覆盖高电阻区间,读数溢出或重复性差;表面电阻率与体积电阻率需要分开测量,传统设备要外接开关盒与切换接线,操作环节多、容易接错;材料在不同施加电压下的电阻特性不同,仅在单一电压下读数无法反映电压依赖性;试样尺寸大小不一,通用探头对小试样适配性不足;批次合格判定需要上下限自动比对,数据靠手抄入台账后追溯不便;电极清洁状态与环境温湿度对高电阻测量影响显著,缺少标准校验件核对探头状态。

解决方案:方案以 NITTOSEIKO ANALYTECH MCP-HT800(Hiresta-UX)高电阻电阻率计为核心,采用定电压施加配合漏泄电流测定方式,符合 JIS K6911 测定方法,使用双重环电极评价材料表面电阻率与体积电阻率。测量范围 10 的 3 次方至 10 的 14 次方欧姆,施加电压 1 至 1000V 共 29 档,自动扫引功能按程序切换电压档位,测定电阻随电压变化的特性曲线;开关盒功能内置主机,外接电阻台即可完成体积电阻率测量,无需另配外接切换单元;前代 Hiresta UP 探头可继续沿用。7.5 英寸 640×480 点阵全彩 TFT 触摸屏设定参数,上下限比较器分别设定合格判定区间,测量结果经 USB 内存输出,可保存 2000 件数据;标准装备 URS 探头 MCP-HTP14 与探头校验器 MCP-TRURS,作业前后用校验件核对电极状态。按试样形态选配 UR、UR-SS、UR-100、UA 与 J 盒 X 型专用探头,环电极外径 10mm 的小尺寸探头可测量 20mm 见方以上小试样;电源 AC85 至 264V、47 至 63Hz,外形 W330×D270×H113mm,整机约 2.4kg。

方案优势:10 的 3 次方至 10 的 14 次方欧姆量程覆盖防静电材料到高阻绝缘材料区间,相比前代量程两端扩展;29 档电压加自动扫引支持电压特性分析,满足材料静电行为研究;内置开关盒简化表面与体积电阻率切换接线,降低误操作概率;上下限比较器直接给出批次合格判定,配合 2000 件 USB 输出形成可追溯数据台账;探头体系覆盖大小试样与粉体、薄膜、板材多种形态,探头校验器保障测量状态稳定;台式体量适合研发实验室与品质管理工位长期摆放。各电压档真度允差不同,高电阻段读数离散度随量程升高而增大,电极清洁、温湿度与试样厚度修正以正式规格书与厂家操作手册为准。


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